高精度數顯高度計/高度規0.01μm

SJ217高精度數顯高度計、高度規（量程50mm，精度0.2μm，小分辨率0.01μm）

一、產品簡介：

SJ217高度計小小可讀取數值為0.01um，可測量長度為50mm，重複性優於0.1um。在20℃時精度在±0.2um之內，SJ101為觸控操作，內有校準係統和數據存儲計算功能。配指示表檢定軟件。
二、產品用途：

本儀器采用進口高精度光柵作為測量基準，遵循阿貝原則，按照機械穩定性和熱穩定性的原則設計而成。

本機廣泛適用於多種應用，其應用包括精密工件檢測、多點檢測、測量設備檢測和位置測量等眾多領域。

高精度數顯高度計/高度規0.01μm 特點：

（1）高精度：進口光柵；
（2）品質：經過10萬次重複性實驗；
（3）檢測速度快，快速檢測不跳數；
（4）校準方便；
（5）采用密珠導軌的測量杆能夠承受很高的徑向力且運動摩擦力極小；
（6）應用廣泛，自動檢測設備、手動測量或定位設備——無論是長度、間距、高度、厚度或直線位移都可以快速、準確和可靠的測量。

高精度數顯高度計/高度規0.01μm 技術規格：